如何用最簡單的方法測量可控硅的好與壞?

可控硅現(xiàn)在應(yīng)用廣泛，應(yīng)用領(lǐng)域有：固態(tài)繼電器、功率調(diào)節(jié)器、晶閘管調(diào)壓器、晶閘管模塊、力矩電機(jī)控制器、整流調(diào)壓器等，下面讓合泉小編和大家一起來談?wù)勅绾斡米詈唵蔚姆椒y量可控硅。

可控硅模塊

用萬用表判斷時(shí)可控硅的好壞時(shí)，先將萬用表的兩個(gè)表筆連接到可控硅兩個(gè)端面，電阻應(yīng)無限大(探頭基本不移動(dòng))，然后再將表筆轉(zhuǎn)另一個(gè)方向。如果這兩個(gè)步驟中電阻很小，則代表可控電路損壞。

進(jìn)行以下測量：將黑筆(儀表內(nèi)的蓄電池正極)連接到控制極(中間引線輸出)，并將紅色筆(表中的蓄電池)連接到陽極(遠(yuǎn)離控制桿遠(yuǎn)的端面)。在這個(gè)時(shí)候，應(yīng)該有很大的阻力。然后反向測量筆，電阻值仍應(yīng)較大(指針基本不動(dòng))。

然后將黑色筆(儀表中的電池+)連接到控制極(中間導(dǎo)線)，將紅色筆(儀表中的電池-)連接到陰極(靠近控制極的一端(中間導(dǎo)線)。這時(shí)，應(yīng)該有幾十到幾百歐姆的電阻。然后反向測量筆，電阻值應(yīng)略大于上次測量值(差異可能不明顯)。如果測試結(jié)果如上所述，則可控硅良好，否則可控硅損壞。